二氧化硅、全硅檢測
1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發布時間:2025-08-01 00:57:58 更新時間:2025-07-31 00:57:59
點擊:0
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
二氧化硅與全硅檢測:原理、方法與標準
二氧化硅(SiO?)及全硅(即樣品中所有含硅形態的總和)的檢測,在工業生產、環境監測、材料科學和水質分析等領域至關重要。二氧化硅廣泛存在于自然界及工業產品中,如石英砂、玻璃" />
1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發布時間:2025-08-01 00:57:58 更新時間:2025-07-31 00:57:59
點擊:0
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
二氧化硅(SiO?)及全硅(即樣品中所有含硅形態的總和)的檢測,在工業生產、環境監測、材料科學和水質分析等領域至關重要。二氧化硅廣泛存在于自然界及工業產品中,如石英砂、玻璃、陶瓷、電子半導體材料、藥品輔料以及工業循環水系統等。高濃度的溶解態或膠體態硅可能導致設備結垢、管道堵塞或影響產品質量。全硅檢測則涵蓋了無機硅酸鹽、有機硅化合物及懸浮態硅顆粒的總量分析,為工藝控制、環境評估和合規性驗證提供關鍵數據。準確測定二氧化硅和全硅含量,對于保障生產安全、優化工藝、控制污染及滿足法規要求具有不可替代的作用。
主要檢測項目包括:
1. 二氧化硅 (SiO?) 含量: 特指樣品中以二氧化硅形式存在的硅元素的量,通常指溶解態或可溶性硅酸鹽經酸化后形成的硅酸(H?SiO?),最終換算為SiO?。
2. 全硅含量: 指樣品中所有形態硅元素的總量,包括:
通常通過測定活性硅和非活性硅(或全硅減去活性硅)來間接反映膠體硅等非活性成分。
根據檢測方法和精度要求不同,常用儀器包括:
主要檢測方法如下:
1. 比色法 (分光光度法) - 主要用于活性硅和全硅(需消解轉化)
全硅測定: 對于含有非活性硅的樣品,需先將樣品用強堿(如NaOH、Na?CO?)在高溫高壓下熔融或消解,或使用氫氟酸(HF)溶解/轉化,將所有形態的硅轉化為可反應的活性硅(硅酸根離子),然后再按鉬藍法步驟測定。此法測得的即為全硅含量。
2. ICP-OES / ICP-MS 法 - 主要用于全硅的直接測定
3. 重量法 - 主要用于高含量二氧化硅的測定(如礦石、土壤)
國內外針對不同樣品和用途制定了相應的標準方法:
中國國家標準 (GB):
國際/行業標準:
選擇標準的關鍵: 需依據樣品的性質(水樣、固體樣、生物樣等)、硅的預期形態(活性硅、全硅)、含量范圍(常量、微量、痕量)、分析精度要求以及實驗室的儀器配置來選擇合適的檢測方法和對應的標準。
總而言之,二氧化硅及全硅的檢測是一個體系化的過程,從明確檢測目標(項目)、選擇合適精密的儀器、采用可靠且標準化的方法,到嚴格遵循對應的國內外標準規范,每一步都至關重要。隨著分析技術的發展,ICP-OES/MS等儀器方法因其高效、準確、可測全硅
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
版權所有:北京中科光析科學技術研究所京ICP備15067471號-33免責聲明