太陽輻射試驗的目的是為了確定地面上或較低大氣層中使用或儲存的電子電工產(chǎn)品受太陽輻射所引起的熱效應、光化學效應以及對產(chǎn)品的機械性能和電性能的影響

樣品類型

　　外墻材料，印刷品，軍用裝備等。

實驗類型

　　直接自然大氣曝曬(ASTM G7，ASTM D4141等)

　　黑箱曝曬(SAE J1976，ISO 877等)

　　太陽跟蹤IP/DP箱曝曬試驗(ISO 2810，ISO 105-B03等)

　　玻璃下曝曬(GB/T 3681，GB/T 9276等)

　　太陽跟蹤聚光加速試驗(GB/T 3511，GB/T 15596等)

相關標準

　　1GB/T 2423.24-2013環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則

　　2GB/T 4797.4-2006電工電子產(chǎn)品 自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度

　　3GB/T 4797.4-2019環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度

　　4GB/T 5170.9-2017環(huán)境試驗設備檢驗方法 第9部分：太陽輻射試驗設備

　　5GB/T 12085.9-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第9部分：太陽輻射

　　6GB/T 12085.17-2011光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗

檢測機構資質證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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